GZY-PC-H全自动胶质层测定仪
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技术性能
全自动探焦,实时判断体积曲线类型,机械手根据体积曲线特点采取对应规则自动探测。
计算机直接进行升温、探焦控制,以及信息的处理和采集。控制过程简洁,精度更高,抗干扰能力更强。
系统根据各上、下部层面数据自动绘制出层面曲线,自动记录最终收缩度X,自动计算胶质层最大厚度Y,可连接打印机打印出胶质层指数测定结果报告,测量的数据可显示储存。
触摸屏或键盘设定各种参数,软件具有温度和位移校正功能。操作参数、胶质层体积曲线及控制控温曲线可画面显示。
可分别进行单炉、双炉、手自动对比试验。
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